LK SLK25 三次元雷射掃描儀
LK Metrology 帶來(lái)最新世代的三次元雷射掃儀技術(shù)，以往透明件、高反射率的表面量測(cè)問(wèn)題皆能迎刃而解，透過(guò)更高精度的掃描技術(shù)，實(shí)現(xiàn)更複雜快速的量測(cè)問(wèn)題。
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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
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VIVID 雷射掃描技術(shù)
LK Metrology 獨(dú)有的 VIVID 藍(lán)光雷射光技術(shù)，優(yōu)化雷射光掃描儀的性能，克服了接觸式檢測(cè)和其他非接觸式檢測(cè)技術(shù)所面臨的許多限制。例如：複雜的幾何形狀、細(xì)小的細(xì)節(jié)、易碎的材料以及表面反射等的零部件，現(xiàn)在可以放心地使用雷射光掃描技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。
| 在雷射光三角測(cè)量原理中，激光二極管將可見(jiàn)光線投射到被測(cè)量的表面上。被反射回來(lái)的背光（p1）通過(guò)高質(zhì)量的光學(xué)透鏡系統(tǒng)投射到一個(gè)探測(cè)器上。 如果表面相對(duì)於探測(cè)器位置發(fā)生變化（p2），反射光的移動(dòng)將投射到探測(cè)器不同處，並分析以輸出表面的精確位置。反射光強(qiáng)度需落在探測(cè)器的範(fàn)圍內(nèi)。如果太暗，光線將無(wú)法檢測(cè)到；如果太亮，測(cè)量的準(zhǔn)確性將受到影響。 |
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VIVID 多重曝光技術(shù)，使雷射光掃描儀檢測(cè)器範(fàn)圍增加四倍之多。掃描中透過(guò)調(diào)整雷射光掃描器的曝光時(shí)間匹配被檢測(cè)表面，優(yōu)化採(cǎi)集速度和數(shù)據(jù)量。擁有更大的動(dòng)態(tài)範(fàn)圍，檢測(cè)器能在單次有效掃描中測(cè)量更廣泛的表面，包含最具挑戰(zhàn)性的深色、透明和高反射表面。
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當(dāng)測(cè)量透明或半透明材料（例如塑料）時(shí)，由於 VIVID 藍(lán)光雷射光技術(shù)波長(zhǎng)為 405 奈米，其強(qiáng)度較低，因此與波長(zhǎng)為 700 奈米的紅光雷射光相比，其穿透表面能力顯著降低。 傳統(tǒng)的紅光雷射光可更深入表面，但缺點(diǎn)是會(huì)在表面上形成散射，導(dǎo)致反射到探測(cè)器的光斑變得模糊，導(dǎo)致探測(cè)器無(wú)法精確測(cè)量距離。相較 VIVID 藍(lán)光雷射光技術(shù)，由於其較短波長(zhǎng)和較低強(qiáng)度，所以不會(huì)穿透表面，在表面上產(chǎn)生非常小且聚焦的雷射光點(diǎn)，提供了更穩(wěn)定和精確的測(cè)量結(jié)果。 |
此外由於其較短的波長(zhǎng)，VIVID 藍(lán)光雷射光技術(shù)在拋光或光澤好的表面上有更佳的成效。紅光雷射光受到光澤表面的影響，會(huì)產(chǎn)生「斑點(diǎn)」效應(yīng)。這導(dǎo)致探測(cè)器上的信號(hào)噪點(diǎn)增加，從而降低測(cè)量精度。VIVID 藍(lán)光雷射光技術(shù)的較短波長(zhǎng)相比之下表現(xiàn)非常優(yōu)秀，斑點(diǎn)效應(yīng)明顯減少，因此噪點(diǎn)水平通常比紅光雷射光掃描器低二到三倍。
規(guī)格說(shuō)明
SLK25 完全符合 CMM 雷射光掃描儀標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)，國(guó)際認(rèn)證精度標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360-8，確保其測(cè)量結(jié)果可靠性值得用戶信任。
