LK SLK25 三次元雷射掃描儀
LK Metrology 帶來最新世代的三次元雷射掃儀技術，以往透明件、高反射率的表面量測問題皆能迎刃而解，透過更高精度的掃描技術，實現(xiàn)更複雜快速的量測問題。
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產(chǎn)品優(yōu)勢
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VIVID 雷射掃描技術
LK Metrology 獨有的 VIVID 藍光雷射光技術，優(yōu)化雷射光掃描儀的性能，克服了接觸式檢測和其他非接觸式檢測技術所面臨的許多限制。例如：複雜的幾何形狀、細小的細節(jié)、易碎的材料以及表面反射等的零部件，現(xiàn)在可以放心地使用雷射光掃描技術進行測量。
| 在雷射光三角測量原理中，激光二極管將可見光線投射到被測量的表面上。被反射回來的背光（p1）通過高質(zhì)量的光學透鏡系統(tǒng)投射到一個探測器上。 如果表面相對於探測器位置發(fā)生變化（p2），反射光的移動將投射到探測器不同處，並分析以輸出表面的精確位置。反射光強度需落在探測器的範圍內(nèi)。如果太暗，光線將無法檢測到；如果太亮，測量的準確性將受到影響。 |
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VIVID 多重曝光技術，使雷射光掃描儀檢測器範圍增加四倍之多。掃描中透過調(diào)整雷射光掃描器的曝光時間匹配被檢測表面，優(yōu)化採集速度和數(shù)據(jù)量。擁有更大的動態(tài)範圍，檢測器能在單次有效掃描中測量更廣泛的表面，包含最具挑戰(zhàn)性的深色、透明和高反射表面。
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當測量透明或半透明材料（例如塑料）時，由於 VIVID 藍光雷射光技術波長為 405 奈米，其強度較低，因此與波長為 700 奈米的紅光雷射光相比，其穿透表面能力顯著降低。 傳統(tǒng)的紅光雷射光可更深入表面，但缺點是會在表面上形成散射，導致反射到探測器的光斑變得模糊，導致探測器無法精確測量距離。相較 VIVID 藍光雷射光技術，由於其較短波長和較低強度，所以不會穿透表面，在表面上產(chǎn)生非常小且聚焦的雷射光點，提供了更穩(wěn)定和精確的測量結(jié)果。 |
此外由於其較短的波長，VIVID 藍光雷射光技術在拋光或光澤好的表面上有更佳的成效。紅光雷射光受到光澤表面的影響，會產(chǎn)生「斑點」效應。這導致探測器上的信號噪點增加，從而降低測量精度。VIVID 藍光雷射光技術的較短波長相比之下表現(xiàn)非常優(yōu)秀，斑點效應明顯減少，因此噪點水平通常比紅光雷射光掃描器低二到三倍。
規(guī)格說明
SLK25 完全符合 CMM 雷射光掃描儀標準規(guī)範，國際認證精度標準 ISO 10360-8，確保其測量結(jié)果可靠性值得用戶信任。
